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带弹簧pogo的Z型测试探头结构设计

项目分类:通讯工具类 发布时间:2022-06-29 ID:674732
  • 带弹簧pogo的Z型测试探头结构设计
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  这类带弹簧结构的Z型pogo探头,核心应用场景集中在PCB板级功能测试、消费电子主板导通检测、通讯模组射频信号接触传输环节,是在线测试治具、功能测试架里的核心接触部件,日常产线里做电路板通断测试、信号采样、小电流供电接触时,都会用到这类结构的探针。从实际使用需求出发,设计时首先要考虑接触的稳定性,探头内置的弹簧提供恒定的接触压力,避免测试过程中因为治具下压行程偏差、PCB板翘曲导致的接触虚接问题,Z型的弯折结构可以在有限的安装空间里调整接触点位的位置,适配不同排布密度的测试点,不需要额外增加治具的层板空间就能错开相邻探针的安装位置,解决高密度测试点排布时的探针干涉问题。结构上探头的针轴采用滑动配合结构,针管内部预留弹簧的压缩行程,

  常规压缩行程可以覆盖1.5mm到3mm的下压偏差,适配不同厚度PCB、不同焊盘高度的接触需求,针轴头部的接触端做了圆滑过渡处理,避免下压时刮伤PCB表面的焊盘镀层,减少测试过程中对产品表面的损伤。安装边界上,这类探头的针管外径控制在1.75mm级别,安装时只需要在治具板上加工对应直径的安装孔,配合2侧的固定结构就能完成定位,不需要额外的紧固件,安装维护时直接插拔就能更换损坏的探针,大幅降低治具的维护成本。设计过程中需要重点考量弹簧的弹力曲线,弹力过小会导致接触电阻过大,影响测试信号的稳定性,弹力过大则会导致下压时对PCB焊盘造成过大压力,长期使用会顶伤焊盘甚至导致PCB基板变形,同时Z型弯折处的结构强度需要满足反复压缩的疲劳要求,

  避免长期下压使用后弯折处出现形变偏移,导致接触点位错位。这类探头除了常规的电信号接触,也可以用在需要临时接触供电的工装场景,比如半成品模组的老化测试、程序烧录接触,不需要焊接引线就能实现稳定的电连接,测试完成后可以直接分离,不会在产品表面残留焊接痕迹,适合批量生产的快速测试环节。针体的材质选择上,接触端通常采用镀金处理降低接触电阻,弹簧部分采用不锈钢材质保证长期压缩的弹力稳定性,针管部分采用铜质基材兼顾结构强度和导电性能,不同部分的材质搭配平衡了导电性能、结构强度和使用寿命,满足产线高频次反复使用的需求。

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