在同步辐射光源、实验室X射线衍射平台的高压原位表征场景中,这类气膜驱动的DAC装置是开展极端条件下物质结构解析的核心执行部件,区别于传统机械式螺丝加压的DAC结构,气膜驱动的形式能够实现压力的连续、平稳输出,避免手动加压过程中产生的压力冲击导致金刚石压砧碎裂,同时可配合远程控制系统实现加压过程的自动化,适配需要长时间连续采谱、压力梯度精准调控的实验需求。该装置属于Diacell Bragg系列的气膜驱动款,整体采用同轴对称的腔体结构设计,主体承压外壳采用高强度马氏体不锈钢加工而成,外轮廓为带台阶的圆柱形态,上部为金刚石压砧的安装定位区域,设置有环形的压砧座配合面,通过精密研磨保证配合面的平面度与同轴度,
确保上下两颗金刚石压砧的砧面能够完全平行对中,避免压砧受力不均出现破损。装置下部为气膜驱动的双腔结构,两个独立的气腔分别对应不同的压力输出区间,低压腔可实现0-20GPa范围内的快速粗调加压,高压腔可在低压腔基础上实现最高百GPa级别的精细压力调控,气路接口设置在装置侧面,采用标准的卡套式接头适配实验室常用的气路管线,接口位置做了沉台处理避免安装时与周边实验平台部件产生干涉。装置侧面预留的多个通孔分别对应热电偶走线、红宝石荧光测压光路通道、绝缘电极引线通道,不同通道之间做了密封隔断设计,避免高压气路泄漏影响腔体内部压力稳定性,底部的三个支脚为可调式支撑结构,可通过支脚的微调螺钉调整装置整体的水平度,
保证X射线光路能够精准穿过金刚石压砧的样品腔中心,支脚的安装孔位采用标准M3螺纹孔,可直接固定在通用的X射线样品台架上,无需额外设计定制转接板。上部伸出的细长金属杆为压砧预紧调节杆,在装置初始组装阶段可通过该杆调整上压砧的初始位置,完成压砧对中后可通过锁紧机构将杆位固定,避免实验过程中压砧出现位移。装置上部的环形凹槽为样品腔的外围区域,可放置压力校准用的红宝石标样、传压介质密封边,凹槽的深度经过精确计算,保证在加压到额定最高压力时,密封边的压缩量处于合理区间,既能够保证样品腔的密封性,又不会因压缩量过大导致压砧受到额外的侧向力。从结构设计的角度来看,该装置的所有承压部件都经过有限元应力校核,在额定最高工作压力下,
腔体的最大变形量控制在微米级别,避免腔体变形导致压砧错位,气膜部分采用高强度耐疲劳的特种橡胶复合材质制作,可承受上万次的加压泄压循环而不出现破损,满足实验室高频次使用的需求。在实际安装使用时,需要先将装置固定在样品台架上,调整支脚高度让装置中心与X射线光路重合,之后连接好气路管线,先通入低压气体检查气路密封性,确认无泄漏后再安装金刚石压砧与样品,整个安装过程需要在体视显微镜下完成,保证压砧砧面的对中精度。这类装置除了用于常规的X射线衍射实验外,还可配合拉曼光谱、红外光谱等表征设备开展高压下的物质物性测试,双腔气膜的设计让其能够适配不同压力区间的实验需求,无需更换装置即可完成从低压到超高压区间的连续测试,相比单腔气膜结构的DAC,其压力调控的精度更高,低压下的压力稳定性更好,能够满足低压力区间高精度实验的需求。装置的整体外形尺寸控制在直径50mm、高度70mm左右,属于紧凑型的DAC结构,能够适配大多数实验室X射线设备的样品腔空间,不会因装置尺寸过大无法放入样品台,侧面的接口位置都做了圆角处理,避免安装过程中划伤实验人员或损坏光路部件,所有外露的金属部件都经过抛光钝化处理,避免长期在实验室环境下使用出现锈蚀,影响装置的配合精度。
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- 软件分类: 传感器











