这款旋转嵌套结构主要应用于半导体后道测试工序中,针对TSOP5封装形式的处理器类芯片做单元测试时的精准定位承载,是芯片测试机台与被测器件之间的核心适配部件。在实际量产测试场景里,这类嵌套需要直接安装在测试分选设备的旋转工位上,随工位做间歇回转动作,依次完成上料、对位、测试、下料的全流程动作,因此结构的同轴度、定位槽的尺寸公差直接决定了测试探针与芯片引脚的对位精度,一旦偏差超过0.02mm就会出现探针扎偏、接触不良,直接导致测试误判率上升。从结构设计来看,整体采用圆柱式基座作为主体安装结构,底部带法兰边做周向定位,可直接嵌入测试机台的旋转工位安装槽内,基座侧面预留的锁紧槽可配合紧定螺钉完成周向防转固定,避免高速回转过程中出现移位。
基座上部均匀分布多组定位夹持槽,对应TSOP5封装的引脚排布做仿形设计,槽体的宽度尺寸严格匹配TSOP5封装的本体厚度,槽内的台阶面可承托芯片本体,避免测试下压过程中芯片出现倾斜。中心位置的定位凹坑对应芯片的中心定位基准,配合周向的夹持弹片结构,可在芯片落入槽体后自动完成对中,无需额外的视觉对位辅助就能保证引脚与测试探针的位置重合。设计时特意将夹持槽做成分体式镶件结构,不同磨损程度的镶件可单独拆卸更换,无需更换整个嵌套基座,能有效降低量产过程中的耗材成本。考虑到测试过程中探针会持续施加下压力,嵌套的基座整体采用高刚性结构设计,壁厚经过受力校核,在15N的测试下压力下形变量控制在0.005mm以内,不会因为长期受压出现槽位变形。
安装边界上,基座的外径尺寸匹配常规测试机旋转工位的标准安装孔径,底部法兰的厚度与工位沉槽深度完全适配,安装后嵌套上表面与工位台面保持齐平,不会阻碍芯片在不同工位间的流转。这类嵌套在实际使用中,需要配合测试机的下压探针模组工作,当旋转巢带着芯片转到测试工位时,上方的探针模组下压,探针穿过嵌套上方的预留间隙与芯片引脚接触,完成电性能测试后探针抬起,旋转巢转动到下料工位,配合吹气或者顶针结构将测试完成的芯片送出,整个过程无需人工干预,可适配每小时上万颗的高速测试节拍。
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- 软件分类: 工装











